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Douglas Brooks, PhD and Johannes Adam, PhD, ADAM Research 四月 28, 2023

大多数人都知道，当电流通过走线（导体）时，走线将会变热。这种温度升高是由于走线电阻内耗散的I²R功率损耗引起的。铜走线的电阻主要取决于其几何形状（横截面积），有很多研究项目正在研究通过（已知 ...查看更多

Sky News 四月 28, 2023

小程序“在线提问”板块精彩问答罗杰斯公司在此前已经发布了五期罗杰斯技术中心小程序“在线提问”板块精彩问答汇总，受到了广大工程师的一致好评。今天我们将 ...查看更多

Nolan Johnson, I-Connect007 四月 28, 2023

Summit Interconnect公司战略市场副总裁John Vaughan接受了Nolan Johnson的采访，探讨了投资、人员配备、网络安全以及他对未来的预测。由于Summit的军事业务，公 ...查看更多

Joe Fjelstad, Verdant Electronics 四月 28, 2023

可能在一篇技术专栏文章里引用一首家喻户晓的诗看起来有点奇怪，但我却觉得这首诗非常适合用在这里。我长期从事挠性电路技术相关工作，它已经占据了我的精神生活和现实生活。如果不是当初我对这项边缘互连技术产生了 ...查看更多

Joe Fjelstad, Verdant Electronics 四月 28, 2023

IPC 四月 25, 2023

任何一份IPC标准的发布离不开技术组专家志愿者们的积极支持和参与，标准开发的过程包含了大量标准条款分析确认、会议讨论、数据报告论证、中英文资料的参考确认等繁杂的技术组工作。为感谢标准开发技术组中卓越的 ...查看更多

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